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接触式薄膜测厚仪简介
  • 发布日期:2023-12-29      浏览次数:115
    • 接触式薄膜测厚仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器,其测量方式是直接接触被测薄膜表面进行测量。

      接触式薄膜测厚仪通常采用机械或电学原理进行测量。在机械原理中,测厚仪通过测量探针与薄膜表面的接触压力或位移,来计算薄膜的厚度。而在电学原理中,测厚仪则是通过测量电导率或电阻值的变化,来推算薄膜的厚度。

      接触式薄膜测厚仪具有以下特点:

      1. 精度高:由于直接接触被测薄膜表面进行测量,可以获得较高的测量精度。

      2. 对测试环境要求较低:对温度、湿度等环境因素的要求不高,适用范围较广。

      3. 可测量各种材料和状态的薄膜:无论是金属、塑料、玻璃纤维等材料,还是涂层、镀层、复合层等状态,都可以使用接触式薄膜测厚仪进行测量。

      4. 操作简便:仪器结构简单,操作方便,易于携带和维护。

      使用接触式薄膜测厚仪时,需要注意以下几点:

      1. 在测量前需要对仪器进行校准,以确保测量结果的准确性。

      2. 在测量过程中,要保持探针与薄膜表面的垂直度和平行度,以确保测量结果的准确性。

      3. 对于一些特殊材料和状态的薄膜,可能需要采用特殊的测量方法和参数设置。

      4. 在使用过程中,需要注意仪器的保养和维护,以保证其使用寿命和精度。

      总之,接触式薄膜测厚仪是一种重要的薄膜厚度测量仪器,能够准确地测量各种材料和状态的薄膜厚度,为产品的质量控制和生产工艺的优化提供保障。

       


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