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影响薄膜测厚仪的精度因素有哪些
  • 发布日期:2024-01-18      浏览次数:162
    • 薄膜测厚仪是一种用于测量薄膜材料厚度的仪器。这种设备利用各种原理,如机械接触式测量、超声波频率变化、涡流等,来检测薄膜的厚度。薄膜测厚仪具有高精度、高稳定性、操作简便等特点,广泛应用于各种薄膜生产、加工、质量检测等领域,为产品的质量控制和研发提供重要的数据支持。在使用薄膜测厚仪时,需要根据具体的薄膜材料和测试要求,选择合适的测量原理和仪器型号。今天小编就给大家介绍一下薄膜测厚仪的精度与哪些因素有关

      1. 基体金属磁性:磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响。

      2. 基体金属厚度:每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度,大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。

      3. 边缘效应:膜厚仪对试片表面形状的陡变敏感,因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

      4. 曲率:试件的曲率对测量有影响,这种影响总是随着曲率半径的减小明显地增大。因此不应在试件弯曲面上测量。

      5. 表面粗糙度:基体金属和被测覆盖层的表面粗糙度对测量有影响,粗糙度增大,影响增大。

      6. 磁场:周围各种电气设备所产生的强磁场会严重地干扰磁性法测量厚度的工作。

      以上信息仅供参考,建议查阅薄膜测厚仪的使用说明书或咨询专业人士获取更全面和准确的信息。有其他任何疑问欢迎您随时联系小编。

       


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