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接触式薄膜测厚仪的测试原理是什么?
  • 发布日期:2024-03-13      浏览次数:78
    • 薄膜厚度测量仪,又被称为薄膜测厚仪、膜厚测试仪、薄膜厚度仪等,是一种用于测量薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料厚度的仪器设备。

      机械接触式薄膜测厚仪的测试原理,是通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。在测试前,仪器的测量头落在设备砧板上,传感器读取测量头的初始位移值,测量头抬起后,将试样放置在砧板纸上,测量头以同样的压力落在试样上,传感器读取测量头的位移值,两次位移值之差则为试样的厚度值。

      薄膜厚度测量仪薄膜测厚仪技术参数:

      测试范围(标配):02mm

      分辨率:0.1μm

      重复性:0.4μm

      测量范围(选配):06012mm

      测量间距:01000mm(可设定)

      进样速度:1.580mm/s(可设定)

      测量方式:机械接触式



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