微泄漏密封性测试仪(真空衰减法)适用于包装物密封性测试，仪器采用真空/压力衰减法测试原理，无损检测技术，满足ASTM测试方法和FDA标准。高精度CCIT测试技术能够检测到微型小孔的泄漏。可用于西林瓶、安瓿瓶、输液瓶、预充针、滴眼剂瓶等大容量、小容量注射液及冻干产品的密封完整性验证。广泛被制药厂家、第三方检测机构、药检机构等使用。 

测试原理与步骤

真空衰减法是一种无损、定量的检测技术。其原理是，当包装内部被抽成真空后，若包装存在微小泄漏，外界空气会通过泄漏点进入包装内部，导致内部压力逐渐上升。通过监测这一压力变化，可以准确判断包装的密封性能。

具体测试步骤如下:

●将待测样品放置在与泄漏测试系统气动连接的紧密配合的排放测试室中。测试室需设计，确保能包含测试包。

●对于带有可移动或柔性部件的样品，使用适当的工具限制这些部件的移动或膨胀，以确保测试的准确性。

●对于带有多孔成分的样品，需采用特殊工具或阻塞辅助物来掩蔽多孔成分，以最小化气流穿过多孔成分。

●开始测试前，将测试室及测试系统死区排空至预定真空度。这一真空度是根据所评估的样品类型预先确定的。

●在系统达到平衡后，使用绝对或差压传感器在预定时间内监测腔体内压力的上升情况。

●若压力增加超过预设的通过/失效极限，则表明容器存在泄漏。