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薄膜测厚仪是什么原理
  • 发布日期:2024-05-30      浏览次数:69
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      薄膜测厚仪,又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等,薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

      品用途

      塑料薄膜厚度测量仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量

      符合标准

      GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

      技术指标

      测量范围:02mm(常规)

      06mm12mm(可选)

      率:0.1μm

      测量速度:10/min(可调)

      测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张)

      接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张)

       

       

    联系方式
    • 电话

      17663718525

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